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X-RAY膜厚测试仪
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访问次数:372更新时间:2022-01-26 18:03:22

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产品简介
X光镀层测厚仪,电镀测厚仪,镀层测厚仪,电镀膜厚仪
电镀层测厚仪,XV测厚仪,X-RAY镀层测厚仪,膜厚测试仪
镀金测厚仪,镀镍测厚仪,镀银测厚仪,镀锌测厚仪
镀锡测厚仪,电镀膜厚测试仪,电镀层厚度检测仪
X射线镀层测厚仪
产品介绍
详细资料请致电:
 
 
XRF2000镀层测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦,操作非常方便简单

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能


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