韩国Micro Pioneer(先锋)X射线镀层测厚仪

XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号

不同型号各种功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品

韩国先锋XRF2000镀层测厚仪(*)

检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度

主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等

韩国XRF2000镀层测厚仪

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
合金镀层:如铁上镀锡铜等
测量时间：10－30秒

精度控制：

      *层：±5%以内
      第二层：±8%以内
      第三层：±12%以内

韩国XRF-2000X射线镀层测厚仪基本技术参数：

1、测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

2、可满足的测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍等

3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底料。

三、设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜层

拥有多种滤波器选择

各种样品单层至多层（5层），合金膜层与溶液均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效

1、主机箱：

输入电压：AC220V±10%，50/60Hz

沟通方法：RS-232C

温度控制：前置放大及机箱温度控制

对焦：激光自动对焦

样品对位：激光对位

安全装置：若测量中箱门打开，X射线会在0.5秒内自动关闭

表面泄露：少于1SV

2、多通道分析：

通道数量：1024ch

温度控制：自动前置放大温度控制

脉冲处理：微电脑高速控制处理器

3、X射线源：

   X射线管：油冷、超微细对焦

   高压：0-50Kv（程控）

   管电流：0-1mA（程控）

目标靶：W靶（可选Mo或Be）

4、准直器：

  固定种类大小：0.1mm-0.2mm-0.3mm-0.4mm-0.05*0.1mm 五个可选