塑料薄膜电压击穿-介电强度测试仪

塑料薄膜电压击穿-介电强度测试仪

一、概述：

采用触摸屏或计算机控制，是通过给材料持续施加电压测试固体绝缘材料的介电强度、击穿强度、电气强度、耐压强度、击穿电压、试验电流、击穿电流的材料耐高压绝缘性能的试验设备，也可在不同温度不同环境下测试。可实时查看试验曲线，试验后生成各种文档保存或打印试验报告。ZJC系列塑料薄膜电压击穿-介电强度测试仪机型是新升级的落地式机型，占地空间小，外表美观。北京智德创新检测仪器试验空间采用全封闭并有多项安全保护措施，已达到零安全隐患。是替代进口设备的产品。产地北京房山。
二、测试标准：
GB/T 1408.1-2016绝缘材料电气强度试验方法 第1部分：工频下试验；
GB/T 1408.2-2016绝缘材料电气强度试验方法 第2部分:对应用直流电压试验的附加要求；
ASTM D149固体绝缘材料介电击穿电压和介电强度的试验方法；
GB/T 1695-2005硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法；
GB/T 3333-1999电缆纸工频击穿电压试验方法；
GB/T 8815-2008 电线电缆用软聚氯乙烯塑料标准；
GBT 12656-1990电容器纸工频击穿电压测定法；
HG/T 3330-2012绝缘漆漆膜击穿强度测定法；
三、技术参数：

四、优势：
1、*自动放电；
2、*交流电压、直流电压测试误差1%；
3、*电极支架采用优质环氧板；
4、*软件可连续做10组试验对比；
5、*试验曲线不同颜色，可叠加对比；
6、*软件可设置电流保护功能；
7、*带有主机控制区域，不通过电脑可单独控制主机；
8、*主机带有电压、电流显示功能；
9、*内置排风装置；
10、*内置照明功能；
11、*放电报警装置；
12、*蓝牙远程控制；
13、*三色灯报警装置（绿灯箱门关闭良好，黄灯开门小心操作，红灯有高压）；
14、*可实现触摸屏或电脑双重操作；
15、*可实现组合编程，梯度升压的升压和耐压时间可分别单独设置；
16、*U盘下载功能，可以将设备中的试验记录直接下载到U盘中。
五、试验软件：
1、独立的控制系统，模块式结构方便于售后维护，外观美观大气，整个实验过程中无噪音，电级自动对中定位，操作方便，安全系数大，精度高。
2、由设备本身触摸屏及控制面板进行操作控制，如不需要进行曲线分析，可不配备计算机。
3、如需进行曲线分析，北京智德创新检测仪器可配备计算机，只进行数据及曲线记录功能，不进行设备控制，避免了试验人员在计算机和设备间交替操作，更人性化。
4、设备具有试验参数记忆功能，相同试验条件不需要每次试验都进行设置，且断电仍会记忆最后一次试验设置参数。
5、试验界面简单明了，且配有示意曲线说明，参数不同，曲线走势不同，方便理解。
6、控制面板简洁，功能标注明确，操作简单。
7、可记录并同时显示10次试验记录，方便试验数据的对比分析。且可以随时舍弃不理想的任意一组数据。
8、北京智德创新检测仪器增加了U盘下载功能，可以将设备中的试验记录直接下载到U盘中。
9、如配备计算机，可生成详细的试验报告单，包括每一组具体信息，多组综合信息，及曲线。
10、设备试验界面采用仪表盘及数字同时且实时显示的方式，更方便试验过程的观看。
11、设备具有安全警告提示，在未关闭试验箱门时试验无法开始，且会弹出警告，在满度（即：高压变压器无输出）时会弹出警告，且试验过程中如果开门，试验会自动结束。
12、采用蓝牙数据传输，北京智德创新检测仪器解决由于有隔离墙阻挡穿墙过线的麻烦和远距离操作安全可靠；
13、设备配有三色报警灯，绿灯亮时表示箱门关闭良好可以开始试验，黄灯亮时表示试验箱门打开，此时可进行试样更换。红灯亮时表示高压大于0.5KV，此时不要开箱门。直流试验结束放电过程警报灯会闪烁且报警。（总结：绿灯箱门关闭良好，黄灯开门小心操作，红灯有高压）

六、绝缘材料抗电强度

一、强电场作用下绝缘材料的破坏

在强电场中工作的绝缘材料，当所承受的电压超越一临界 值V穿时便丧失了绝缘材料性能而被击穿，这种现象称为 电介质的击穿，V穿称为击穿电压。

• 采用相应的击穿场强来比较各种材料的耐击穿能力，材料所能承受的最大电场强度称为材料的抗电强度或介电强度， 其数值等于相应的击穿场强（V/m）：

E穿 =V穿/d

二、影响材料击穿电压的因素：

• 材料本身的性质：固体介质的击穿同时伴随着材料的破坏，而气体及液体介质被击穿后，随着外 电场的撤销仍然能恢复材料性能。

• 外界因素：试样和电极的形状、外界的媒介、温 度、压力等。

电介质的击穿形式：介质在电场中击穿现象相当复杂，一 个器件的击穿可能有多种击穿形式，主要有： 电击穿 、热击穿、 化学击穿

对于任意一种材料，这3种形式的击穿都可能发生，主要 取决于试样的缺陷情况及电场的特征（交流和直流，高频 和低频，脉冲电场等）以及器件的工作条件。

三、击穿形式：

1、电击穿

在强电场的作用下原来处于热运动状态的少数“自由电子”将沿反电场方向 定向运动。在其运动过程中不断撞击介质内的离子，同时将其部分能量转 给这些离子，当外加电压足够高是，自由电子定向运动的速度超过一定临 界值可使介质内的离子电离出次级电子，这些电子都会从电场中吸取能量 而加速，又撞击出第三级电子，连锁反应将造成大量自由电子形成 “雪 崩” ，导致介质的击穿，这个过程大概只需要10－7－10－8s的时间，因此 电击穿往往是瞬息完成的。

2、热击穿

绝缘材料在电场下工作时由于各种形式的损耗，部分电 能转变成热能，使介质被加热，若器件内部产生的热量 大于器件散发出去的热量，则热量就在器件内部积聚， 使器件温度升高，升温的结果进一步增大损耗，使发热 量进一步增多，这样恶性循环的结果使器件温度不断上 升，当温度超过一定限度时介质会出现烧裂、熔融等现 象而wan全丧失绝缘能力，这就是介质的热击穿。

3、化学击穿

长期运行在高温、潮湿、高电压或腐蚀性气体环境 下的绝缘材料往往会发生化学击穿，化学击穿和材 料内部的电解、腐蚀、氧化、还原、气孔中气体电 离等一系列不可逆变化有很大的关系，而且需要相

当长时间，材料被“老化” ，逐渐丧失绝缘性能， 最后导致被击穿而破坏。

化学击穿的机理：

（1）在直流和低频交变电压下，由于离子式电导引起电解过程，材料中发 生电还原作用，使材料的电导损耗急剧上升，最后由于强烈发热成为热化 学击穿；

（2）当材料中存在着封闭气孔时，由于气体的游离放出的热量使器件温度 迅速上升，变价金属氧化物在高温下金属离子加速从高价还原成低价离子， 甚至还原成金属原子，使材料电子式电导大大增加，电导的增加反过来又 使器件强烈发热，导致最终击穿。

四、影响抗电强度的因素：

（1）温度

温度对电击穿影响不大；

对热击穿影响较大，温度升高使材料的漏导电流增大，损耗增大，发热量增 加，促进了热击穿的产生；

环境的温度升高使器件内部的热量不容易散发，进一步加大了热击穿倾向。

温度升高使材料的化学反应加速，促使材料老化，加快了化学击穿的进程。

（2）频率频率对热击穿有很大的影响，在一般情况下，如果其他条件不变，则E穿与 频率w的平方根成反比，即：E_穿=A/根号W²

五、抗电强度的测量与应用：

在特定的条件下进行，标准GB/T1408.1-2016；IEC60243-1：2013；GB/T1408.2-2016；IEC60243-2：2013；ASTM D149；GB/T1695-2005；规定了固体电工材料频击穿电压，击穿场强，耐电压的实验方法。对试样的尺寸，电极的形状，加压方式等都做了规定。

七、相关产品

ZJC-20E电压击穿/介电强度试验仪GB/T1408.1-2016；IEC60243-1：2013

ZJC-50E电压击穿/介电强度试验仪GB/T1408.2-2016；IEC60243-2：2013

ZJC-100E电压击穿/介电强度试验仪ASTM D149

ZJC-150E电压击穿/介电强度试验仪GB/T1695-2005

ZST-121体积表面电阻测试仪GB/T 31838.2-2019； IEC 62631-3-1：2016;GB/T1410

ZST-122体积表面电阻测试仪 GB/T 31838.3-2019； IEC 62631-3-2：2015;GB/T1410

ZST-212全自动体积表面电阻率测试仪 GB/T 31838.4-2019； IEC 62631-3-3：2015

ZJD-A介电常数介质损耗测定仪GB/T1693-2007；GB/T1409-2006

ZJD-B介电常数介质损耗测定仪ASTM D150-11；GB/T1693-2007

ZJD-C介电常数介质损耗测定仪GB/T1409-2006；ASTM D150-11

QS37a介电常数介质损耗测定仪GB/T1409-2006；IEC60250

ZJD-87介电常数介质损耗测定仪GB/T1409-2006；IEC60250

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ZLD-6kV高压漏电起痕试验仪GB/T 6553-2014；IEC 60587-2007；ASTMD 2303-2013

CR-400A毛细管流变仪 GB/T25278-2010

TR-200A转矩流变仪

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八、过往用户名单：排名不分前后