高温栅偏试验系统

产品详情

★主要技术规格和性能:

产品型号GKH-HTGB-C16

产品名称高温栅偏试验系统

高温试验箱PH-201高温试验箱一台，

试验区域16个 

试验容量每通道80工位，共16通道。

试验电源选配TDK的Z+系列电源或安捷伦试验电源。

电源数量：配置4台/8台电源。

输出范围：0～35V或0～60V。

主要功能① 正常HTGB试验，通过按钮可以选择正栅压或负栅压，两种偏压工作时只能二选一，不能同时工作。

② 热阻测量，即测量HTGB工作时的Tj值。

③ 高温试验箱内可放置4层板或8层板。具体需根据器件的封装尺寸定义。当被测量模块体积过大时，由于体积的限制，被测器件数据需相应减少。

④ 可选配温度可达300℃的高温试验箱。

测控功能① 检测每个材料的电压、漏电流值。

② 漏电流超限保护，自动切断测量回路。

③ 测量电流范围：1nA～100uA；

④ 电流分辨率：0.5nA；

⑤ 测量精度：±2%±3nA；

防静电设计① 设备外壳良好接地；

② 预留静电接地端子（香蕉插头插孔）方便操作员连接静电环。

计算机工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面，友好的人机对话窗口， 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择，软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能， 试验状况一目了然，方便用户随时查验。

老化板可按客户的器件封装定制老化板。

电网要求单相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW

外形尺寸W1360mmхH1820mmхD1320mm

重量约500kg 

HTRB/HTGBJ测试介绍

高温反偏试验（High Temperature Reverse Bias Test，HTRB）是在高温下加上反向偏压的工作模式，由于高温下漏电流增加，质量差的器件就会失效，以此评估产品的可靠性。

测试温度：125℃，150℃或175℃。

测试时间：168h，500h，1000h。

测试目的：研究器件在静态工作模式下，以额定反向直流电压下或者80%额定反向直流电压进行工作，以确定偏置条件和温度随时间对固态设备的影响。

参考测试标准：JESD22-A108

高温栅偏试验（High Temperature Gate Bias, HTGB）主要是用于测定栅氧本身及相关界面的可靠性。

测试温度：150℃或175℃。

测试时间：500h，1000h。

参考测试标准：JESD22-A108

HTBR和HTGB是可靠性测试中非常常见的测试项目。

适用测试器件：功率二极管， SiC肖特基和肖特基二极管，晶闸管，三端双向可控硅和IGBT。

试验设备：高温反偏试验机