间歇寿命试验系统

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公司名称深圳市华科智源科技有限公司
品牌其他品牌
型号HK-IOL-16H
所在地深圳市
厂商性质生产厂家
更新时间2024/3/21 15:35:31
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产品标签:

间歇寿命试验系统 MOS管 IGBT

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公司介绍主营产品

深圳市华科智源科技有限公司，是一家专业从事功率半导体测试系统自主研发制造与综合测试分析服务的*，坐落于改革开放之都-中国深圳，核心业务为半导体功率器件智能检测准备研制生产，公司产品主要涉及SMT*检测仪，MOS管直流参数测试仪，MOS管动态参数测试仪，IGBT动态参数测试系统，IGBT静态参数测试仪，在线式检修用IGBT测试仪，变频器检修用IGBT测试仪，IGBT模块测试仪，轨道交通检修用IGBT测试仪，风力发电检修用IGBT测试仪，产品以高度集成化、智能化、高速高精度、超宽测试范围等竞争优势，将广泛应用于IDM厂商、器件设计、制造、封装厂商及高校研究所等；
华夏神州，科技兴国，智能创新，源远流长；华科智源公司核心团队由华中科技大学等国内高校研究所、行业应用专家等技术人才组建，致力于中国功率半导体事业，积极响应国家提出的中国制造2025战略，投身于半导体测试设备。
深圳华科智源科技有限公司-，功率器件测试方案供应商，2025中国制造 • 芯片设计及封装 • 新能源及轨道交通 • 来料选型。

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首件检测仪,首件检测系统，SMT智能首件检测仪，首样检测，首板确认

产品简介在线询价

华科智源-IOL间歇寿命测试系统，测试各种封装的MOSFET、IGBT、三极管、Diode（小电流器件）进行连续工作寿命和间歇工作寿命试验。间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温和低温，加速芯片内各种组件材料和结合面的热机械应力，验证封装、内部键合等承受由芯片操作引起的热机械应力能力。

间歇寿命试验系统产品信息

产品详情

★主要技术规格和性能:

产品型号 HK-IOL-16H

产品名称间歇寿命试验系统

符合标准

试验线路及试验方法满足MIL-STD-750、GJB128及AEC-Q101相关标准要求

适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。

试验通道16个（一板一区）

试验容量40×16=640位

基本功能①每个通道提供一组独立程控电源。

②对于三极管、MOSFET器件试验，可提供部分工位Tj检测或全部工位Tj检测。二极管试验提供全部工位Tj检测。