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P系列 BA-100 X射线荧光镀层测厚仪
产品参数：
项目 | 技术参数 |
X射线管 | 50W(50kV和1mA)微聚焦钨靶射线管 |
探测器 | 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 |
滤波器 | 4位置一次滤波器/4种规格准直器 |
处理器 | 英特尔，酷睿i5 3470处理器(3.2GHz)8GB DDR3内存Windows 10，64位 |
分析能力 | 5层(4层+基材)每层分析10种元素， 成分分析最多可同时分析25种元素 |
焦距 | 激光多焦距 |
视频放大倍率 | 30x:标准 45x:可选 |
工作环境 | 温度在10℃~40℃之间，相对湿度小于98%，无冷凝 |
数字脉冲处理 | 4096多通道数字处理器 自动死时间 逃逸峰校正 |
重量 | 52-70kg |
元素测量范围 | 13号铝元素至92号铂元素 |
相机 | 1/4CMOS-1280x720VGA分辨率 |
电源 | 150W，100~240V 频率范围为47Hz~63Hz |
尺寸(高x宽x深) Size ( high x wide x deep ) | 样品仓:140mm(5.5”)x305mm(12”)x330mm(13”) 外形:450mm(18“) x450mm(18“)x600mm(24”) |
标准可编辑XY平台 | 尺寸:380mm(15”)x 330mm(13”) 行程:125mm(5”)x150mm(6”) |
可选可编辑XY平台
| 尺寸:625mm(25”)x 625mm(25”) 行程:250mm(10”)x250mm(10”) |
领域：
P系列可满足以下类型用户的需求：
◆小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB
◆需要测试多个样品的多个位置
◆期望在多个样品上实现自动化测量
◆样品尺寸和应用经常变化
◆保证符合IPC-4552A
特点：
◆P系列提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。配备一个高精度可编程XY平台，相对固定平台，提供了多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。
配置：
◆标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管，SDD探测器可选。
