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B系列BA-100 X射线荧光镀层测厚仪
设备技术参数：
项目 | 技术参数 |
X射线管 | 50W(50kV和1mA)微聚焦钨靶射线管 |
探测器 | 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 |
滤波器 | 4位置一次滤波器/单规格准直器 |
处理器 | 英特尔，酷睿i53470处理器(3.2GHz)8GB DDR3内存 |
分析能力 | 5层(4层+基材)每层分析10种元素，成分分析最多可同时分 25种元素 |
焦距 | 激光固定焦距 |
视频放大倍率 | 30x:标准 45x:可选 |
工作环境 | 温度在10℃~40℃之间，相对湿度小于98%无冷凝 |
数字脉冲处理 | 4096多通道数字处理器 自动死时间逃逸峰校正 |
重量 | 34kg |
元素测量范围 | 13号铝元素至92号铂元素 |
相机 | 1/4CMOS-1280x720VGA分辨率 |
电源 | 150W，100~240V频率范围为47Hz~63Hz |
尺寸(高x宽x深)
| 样品仓:140mm(5.5”)x305mm(12”)x330mm(13”) 外形:450mm(18”) x450mm(18”)x600mm(24”) |
应用领域：
B系列可满足以下类型用户的需求：
◆样品测试量相对较小
◆样品仅需测量一个位置
◆大型线路板镀层的抽检
◆预算有限但希望日后仪器性能能有所提升
◆保证符合IPC-4552A
特点：
◆B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式，配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。
配置：
◆B系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦距相机和SDD探测器。
