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CMI900X荧光镀层测厚仪

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具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称广东正业科技股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地
  • 厂商性质经销商
  • 更新时间2022/2/14 18:08:15
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广东正业科技股份有限公司成立于1997年,是一家专业从事PCB精密加工检测设备及辅助材料的集研发、生产、销售和技术服务于一体的国家*。

    近年来, 公司通过“自主研发”、“引进消化吸收再创新”及“产学研结合”等发展模式,致力于国产科学仪器设备的研制开发。经公司自主、合作研发、生产的包括金相分析系统、研磨机、自动取样机、离子污染测试仪、剥离强度测试仪、UV激光切割机、外观检查机、X光检查机、孔径孔数检查机、特性阻抗测试仪、自动外观检查仪和V槽残厚测量仪等40余种适用于硬/挠性板的测试仪器及装备,全部具有自主知识产权,多项产品*,一定程度上满足了我国电子电路行业的高质量检验需求。在企业不断发展的过程中,也获得了政府和业界较高的评价,先后入选*届中国电子电路行业优秀民族品牌企业、国家标准化良好行为企业AA*单位、中国*成长性中小企业、国家火炬计划、广东省装备制造业重点培育企业、广东省企业技术中心和广东省知识产权优势企业等。目前,公司市场覆盖整个珠三角和长三角地区,并向韩国、中国台湾等东南亚国家(地区)辐射。

    在未来,正业将一如既往的视客户为亲人,服务到心,并将进一步突出技术创新,不断提高测试仪器设备的精度和稳定性,大力拓展品牌建设,将正业建设成为PCB精密加工检测设备及辅助材料的专业供应商。

研磨机,自动取样机,离子污染测试仪,剥离强度测试仪,X光检查机,孔径孔数检查机,特性阻抗测试仪,自动外观检查仪,V槽残厚测量仪
测厚仪,X荧光镀层测厚仪CMI900 X荧光镀层测厚仪特点:● 精度高、稳定性好 ● 强大的数据统计、处理功能 ● 测量范围宽 ● NIST认证的标准片 ● 服务及支持
CMI900X荧光镀层测厚仪 产品信息
CMI900X荧光镀层测厚仪介绍
CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。
CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900主要特点
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 
可检测元素范围:Ti22 – U92 
可同时测定5层/15种元素 
精度高、稳定性好 
强大的数据统计、处理功能 
测量范围宽 
NIST认证的标准片 
服务及支持
CMI900X荧光镀层测厚仪技术参数
主要规格 规格描述 
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准 
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选 
装备有安全防射线光闸 
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 
准直器程控交换系统 zui多可同时装配6种规格的准直器 
多种规格尺寸准直器任选: 
-圆形,如4、6、8、12、20 mil等 
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 

测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,zui小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 
在12.7mm聚焦距离时,zui大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 
样品室 CMI900 CMI950 
-样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 
-zui大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm 
-XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm 
还有5种规格任选 300mm x 300mm 
-Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时,152.4mm 
XY轴手动时,269.2mm 
-XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 
-样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 
激光自动对焦功能 
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 
计算机系统配置 IBM计算机 
惠普或爱普生彩色喷墨打印机 
分析应用软件 操作系统:Windows2000中文平台 
分析软件包:SmartLink FP软件包 
-测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。 
-基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 
可检测元素范围:Ti22 – U92 
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 
贵金属检测,如Au karat评价 
材料和合金元素分析, 
材料鉴别和分类检测 
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量 
多达4个样品的光谱同时显示和比较 
元素光谱定性分析 
-调整和校正功能 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移 
-测量自动化功能 鼠标激活测量模式:“PointShoot” 
多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 
测量位置预览功能 
激光对焦和自动对焦功能 
-样品台程控功能 设定测量点 
连续多点测量 
测量位置预览(图表显示) 
-统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 
数据分组、X-bar/R图表、直方图 
数据库存储功能 
任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 
-系统安全监测功能 Z轴保护传感器 
样品室门开闭传感器 
操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师
 
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