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IGBT动态参数测试系统 IGBT测试仪

参考价599.00
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称西安天光测控技术有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       号ST-DP_X(1
  • 所  在  地西安市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2023/9/15 14:41:58
  • 访问次数637
规格
1500V/600A599.00元99 台 可售
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西安天光测控技术有限公司 是一家专业从事 半导体功率器件测试设备 研发、生产、销售的*。产品有半导体分立器件测试筛选系统。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的电参数及可靠性和老化测试。

产品包括静态单脉冲(包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数)动态双脉冲(包括Turn_ON_L, Turn_OFF_L , FRD , Qg)Rg , UIS , SC , C, RBSOA 等。环境老化测试(包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等)热特性测试(包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等)各类全系列测试设备。广泛应用于半导体器件上游产业(设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板)和下游产业(院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等元器件的应用端产业链)。


公司团队汇集了来自国内*院校及电力电子行业的专家教授。拥有众多*的革命性创新技术。产品成熟可靠,久经市场考验,在替代进口产品方面有着突出的优势。公司从产品到服务,从技术咨询到现场支持,可覆盖功率器件的初始研发到规模化生产的整个领域。


      展望未来,公司将全力发挥自身技术优势,为客户提供*专家级的技术支持以及更多的经典产品。



半导体分立器件测试筛选系统|IGBT静态参数测试仪|IGBT动态参数测试仪| 功率循环试验台|高温反偏差测试系统
IGBT动态参数测试系统 IGBT测试仪
IGBT动态参数测试仪是西安市天光测控技术有限公司研发生产的IGBT测试设备,天光测控的IGBT测试系统广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件,其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。
IGBT动态参数测试系统 IGBT测试仪 产品信息

IGBT动态参数测试系统 IGBT测试仪

品牌 :天光测控型号 :ST-DP_X(1500V600A)
加工定制 :类型 :IGBT动态参数测试仪
测量范围 :电压6000V,电流4000A测量频率 :50HZ
测量精度 :0.1适用范围 :在线检修,来料检验,失效分析
输入电压 :220V输出电压 :脉冲电压
环境温度 :常温精确度 :正负%1精度
仪表尺寸 :500*420*300mm仪表重量 :30kg
工作电源 :AC220v规格 :IGBT动态参数测试仪

IGBT动态参数测试系统 IGBT测试仪

产品详情

Product details

IGBT动态参数测试仪是西安市天光测控技术有限公司研发生产的IGBT测试设备,天光测控的IGBT测试系统广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件,其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。

该系统是针对IGBT 器件的开关特性及内部续流二极管 的反向恢复特性而推出的全自动测试系统。适用于电流 小于4500A,集电极电压 小于6000V,续流二极管正向电流小于4500A的 IGBT 器件的特性参数测试。

IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件,其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响变化器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。

IGBT动态综合参数测试台,是针对IGBT器件的开关性特性以及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过1500A和集电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性的测试。本系统适合各大研究院所做元器件检验,元件进厂检测筛选以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强,通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要,故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程,操作人员不需具备专业计算机编程语言知识,使用简捷方便。

系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证各种情况下测试结果的准确可靠。

系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。   测试系统组成部分

1)开通时间测试单元

2)关断时间测试单元

3)二极管反向恢复特性测试单元

4)一套自动恒温气动压力夹具

5)PLC控制系统

6)计算机控制系统 环境要求 A.  环境温度:    1540 B. 相对湿度:   小于80 C.  大气压强:    86Kpa 106Kpa D.  电网电压:    AC220V±10无严重谐波 E. 电网频率:    50Hz±1Hz

2.2   IGBT动态参数及测试条件

IGBT开通特性测试测试参数

开通延迟tdon10-1000ns±5±10ns  Tj=25oC和125 oC

上升时间tr10-1000ns±5±10ns    Tj=25oC和125 oC

开通能量Eon1-1000mJ±5±0.1 mJ  Tj=25oC和125 oC

IGBT关断特性测试测试参数

关断延迟tdoff10-2000ns±5±10nS  Tj=25oC和125 oC

下降时间tf10-2000ns±5±10nS       Tj=25oC和125 oC

关断能量Eoff1-1000mJ±5±0.1 mJ  Tj=25oC和125 oC

测试条件 集电极电压 Vce50-3500V±5根据用户要求定制

集电极电流 Ice50-1500A±5根据用户要求定制

L负载20-1000uH

栅极电压Vge±15V±3±0.2V

压    力:用气动压力夹具 控温范围: 80--125 控温精度: 80-125±1.0±1

测试范围     该套测试设备主要可测试以下参数:适用于电流不超过1500A、电压不超过3500V的IGBT开关时间的测试。设备的相关电压、电流等参数可根据客户要求定制。

功能概述

1 开关时间测试系统该测试台通过电容充放电原理产生电流波形,测试时根据不同的测试条件,设定好测试电压,再通过调节不同的电感值或选择不同的测试脉冲宽度来输出测试要求的电流值,测试的的电压和电流波形同时被采集到示波器,并由示波器与工控机直接通讯,将采集数据传输给计算机,计算机经过处理计算后,将测试数据以表格形式显示并可进行编辑和打印。

2 计算机控制系统   计算机控制系统是该测试设备的中心控制单元,设备有一部分的工作程序、工作时序、开关的动作状态,数据采集等均由计算机完成。计算机采用研华工业控制机,具有抗电磁*力强,排风量大等特点。 在计算机中,装有美国国家仪器公司生产的数据采集卡NI6221卡1块,泰克公司示波器1台。在测试过程中,计算机与示波器通讯,控制示波器的工作状态,并将示波器的测试数据采集到计算机,计算机对数据进行处理与计算、并进行*终的显示与编辑。

3  PLC控制系统     本测试台除了采用工控机控制外,还采用了欧姆龙系列的PLC对系统进行控制,PLC主要对设备的工作时序、开关动作等进行控制,并且与计算机进行通讯,完成了整个系统的自动控制功能;PLC不仅控制开关的动作,而且对系统中主要开关的工作状态进行实时监控,并与硬件进行互锁,实现了可靠的安全控制功能。










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